阻抗測(cè)試儀簡(jiǎn)介
阻抗測(cè)試儀是一種用于物理學(xué)領(lǐng)域的激光器。
技術(shù)指標(biāo)
材料阻抗測(cè)試系統(tǒng)由兩大部分組成，包括阻抗分析儀和寬帶放大器。主要指標(biāo)如下： 1.阻抗分析儀： 阻抗分析儀的頻率范圍：1MHz至3GHz，頻率分辨率1mHz； 基本阻抗測(cè)試精度：≤±0.8%； 測(cè)量阻抗參數(shù)：|Z|、θ z、|Y|、θ y、Cp、Cs、Lp、Ls、Rp、Rs、D、Q、R、X、G、B等； 可掃描參數(shù)：測(cè)量信號(hào)頻率、信號(hào)電壓、信號(hào)電流等。
主要功能
阻抗測(cè)試儀精密自動(dòng)測(cè)試，包括MEMS、射頻/微波、器件性能測(cè)試、晶圓級(jí)別可靠性、建模等。
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